Nexcope NX2000 – инспекционный микроскоп с большим предметным столиком, на котором можно размещать образцы диаметром до 300 мм. Столик дополняется стеклянной вставкой или держателями образцов – по желанию пользователя, в зависимости от решаемых задач. На микроскопе проводят контроль качества поверхности металлических, полупроводниковых и микроэлектронных образцов, анализируют структуру кремниевых пластин и печатных плат.
Особенность модели – сверхвысокий штатив (200 мм свободного хода), позволяющий работать с габаритными образцами (ЖК-экранами и аналогичными). Тринокулярная насадка предусматривает установку цифровой камеры в вертикальный канал визуализации и имеет регулировку светового потока. Оптика скорректирована на бесконечность, формируемое изображение свободно от аберраций, имеет правильную цветопередачу и достаточную контрастность для различения мелких деталей структуры образца. Система освещения реализована двумя источниками света – сверху и снизу от предметного столика. Сам столик можно перемещать грубо или точно: в первом случае используется рукоятка с ручкой сцепления, во втором – стандартная поворотная рукоятка.
Благодаря модульной конструкции функционал микроскопа может быть адаптирован под решение любой задачи исследователя за счет установки дополнительных аксессуаров. Базовая комплектация предоставляет доступ к светлому полю, опциональная – к темному полю, поляризации, флуоресценции, ДИК.
Основные особенности:
Комплектация: